詳細摘要： 產品描述：連續式四探針片電阻及光學膜厚測量設備設計, 片電阻不受針尖距離影響多種型號以供選擇
產品型號：所在地：上海市更新時間：2025-06-23 在線留言
鉑悅儀器（上海）有限公司
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